AUGER

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UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA
MARYENI ENRIQUEZ
OCTUBRE DE 2010
G10NL07Maryeny
Etapas:
• Ionización atómica, por remoción del electrón central
• Emisión de electrones (Proceso Auger)
• Análisis de los electrones Auger emitidos ( detección
de partículas cargadas con alta sensibilidad)
Se crea un hueco central al exponer la muestra al
haz de e - de alta energía, desde 2 a 10 keV. Estos
tienen la energía suficiente para ionizar todos los
niveles de los elementos mas livianos y los niveles
centrales superiores de los elementos mas pesados.
El átomo ionizado permanece en un estado excitado
y rápidamente se relaja volviendo a un estado de
menor energía por fluorescencia de rayos X. Al
considerar la emisión auger, un electrón cae al
hueco central inicial y la energía liberada es
transferida a otro electrón; parte de esta energía es
requerida para superar la energía del enlace del
segundo electrón y parte de esta es retenida por el
electrón auger emitida como energía cinética. Al final
se tiene un átomo doblemente ionizado.
Se caracteriza principalmente por:
• Localización del hueco inicial
• Localización de los dos huecos finales.
La existencia de distintos estados electrónicos del átomo
doblemente ionizado puede dar una estructura fina en
los espectros de alta resolución. Para un determinado
elemento hay varias transiciones auger, algunas pueden
ser débiles y otras fuertes.
Se basa en la medición de las energías de los
electrones emitidos. Cada elemento da un espectro
característico a diferentes energías que provienen
de electrones secundarios generados por muchos
procesos de dispersión inelástica.
La electroscopia de electrón auger es una técnica
sensible a la superficie, usada para el análisis
elemental, la alta sensibilidad se da en general para
todos los elementos, excepto para hidrogeno y helio.
El análisis cuantitativo de la composición de
regiones de la superficie se hace mediante una
comparación
con
muestras
estándar
de
composiciones conocidas.
Para tener información sobre la composición a baja
profundidad de la superficie se utiliza un flujo de
electrones de baja energía que remueven gradualmente
material de la región analizada, monitoreando los
espectros auger. Este ataque superficial puede estar
acompañado de iones produciendo desprendimiento de
los átomos de la superficie. Cuando el haz de iones
desprende material lejos de la superficie, las señales
auger correspondientes a los elementos presentes en
esta capa aumenta y luego disminuye.

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