전홍신 - SK하이닉스

Report
한국 테스트산업 발전을 위한
산학협동 방안
2013. 06. 19
전 홍신
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테스트의 가치
 Test Challenges
: Design Complexity, High Performance, Low Power, Thermal
: Test Cost Pressure
: New Technology (FinFET, 3D, Flexible Display, Small Footprint)
: Short Market Window
: High Quality Requirements
 테스트+
테스트+ DFT
Test Strategy, Test Modes
Test Cost
테스트+ DFD
Early Validation
TTM
테스트+ DFM
FA, Root Cause
Quality
테스트+ 설계
Protocol Aware
Test Infra
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산학 협동의 선순환
산업체
1. 테스트+ ROI
2. 선행연구투자
테스트+ 인재
산학협동 Project
Project
학교
1. 연구업적
2. 논문실적
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SK hynix의 테스트 인재상
 SK hynix is expending its business scope
: DRAM, FLASH, NGM
: SSD
: WIO-DRAM, HBM, 2.5D/3D
: SiP, SOC
 Test Challenges-Opportunities are there
 테스트+ 인재
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