Astro-E2搭載X線CCD(XIS) BIチップにおける 新しい解析法

Report
Astro-E2搭載X線CCD(XIS) BIチップにおける
新しい解析法の構築および応答関数の作成
2005/3/29 天文学会春季年会 @明星大学日野キャンパス
山口 弘悦、中嶋 大、松本 浩典、鶴 剛、小山 勝二 (京都大学)、
松浦 大介、宮内 智文、勝田 哲、東海林 雅幸、並木 雅章、
鳥居 研一、林田 清、常深 博 (大阪大学)、 他XISチーム
FI CCD
軟X線
検出効率の比較
硬X線
BI
光電吸収
FI
BI CCD
軟X線
硬X線
FI : 表面の電極層
→ 低エネルギーX線を遮蔽
BI : 低エネルギーX線の
検出効率向上
イベント検出 (Grade法)
Gradeの定義
波高値 (PH)
event th.
Grade 0
Grade 3
split th.
Grade 1
Grade 4
Grade 2
Grade 5
イベント中心ピクセル
:イベント中心ピクセル
:split th.を越えたピクセル
Grade0,2,3,4,6を
X線イベントとみなす
と
の波高値の合計 ≡ PHA
Grade 6 ‥ 四角とL字型
Grade 7 ‥ 2×2より大きく
広がったもの
一定のsplit th. でイベント抽出を行うと‥‥
Grade分岐比の
エネルギー依存性
split th.をエネルギーに
よって可変にする
Grade 7
Grade 0
エネルギーが高くなるほど
Grade7 の割合が増加
(特に高エネルギー側で)
検出効率が大幅に向上
応答関数
Line Profile
55Feのスペクトル
6成分モデル (ASTRO-Eの地上キャルで確立)
T1 : main peak
T2 : sub peak (split th.以下の電荷が周辺ピクセルに洩れた成分)
T3 : triangle (channel stopで吸収されたイベント;BIには不要)
T4 : constant (表面の不感層での部分吸収)
T5 : Si escape
T6 : Si-line (escapeした蛍光Si X線が十分遠くのピクセルで再吸収)
Radiative Auger Emission (RAE)
Kβ-X線が別の電子と
Compton散乱してから
放射される過程
Kβ
RAE
自由電子

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